所用設(shè)備

儀器：CTX（5Kg負(fù)載單元）

附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件：Texture Pro軟件

測(cè)試類(lèi)型：Compression壓縮

測(cè)前速度：0.5 mm/s

測(cè)試速度：1.0 mm/s

測(cè)后速度：4.5 mm/s

目標(biāo)類(lèi)型：Distance

目標(biāo)距離：2 mm

觸發(fā)負(fù)載：5 g

如下是一個(gè)典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測(cè)試譜圖，顯示了面餅的硬度，脆性等指標(biāo)。

圖1：粉餅穿刺測(cè)試曲線(xiàn)圖（負(fù)載/時(shí)間）

硬度：測(cè)試過(guò)程中峰值最大力值；

第一斷裂衰減：代表產(chǎn)品脆性的層次性，衰減越大說(shuō)明脆性的層次感越弱；

斷裂性：產(chǎn)品發(fā)生第一次斷裂的力值，力值越大說(shuō)明越不容易斷裂。

測(cè)試結(jié)果如下:

通過(guò)圖1可知，當(dāng)探頭向下運(yùn)行直至達(dá)到粉餅表面的破裂點(diǎn)之前，應(yīng)力一直處于上升的趨勢(shì)；到達(dá)破裂點(diǎn)時(shí)，圖中顯示第一個(gè)應(yīng)力峰值；穿透表面后，測(cè)量的力值穩(wěn)步增加，直到測(cè)量到第二個(gè)峰值，峰值越大，說(shuō)明粉末的致密程度越高。